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臺(tái)式電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過(guò)掃描樣品表面并利用反射出的電子來(lái)獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。臺(tái)式電鏡SEM主要有以下作用：1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)和形貌，為材料表面結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)。2.分析元素成分分布：能夠進(jìn)行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生...

臺(tái)式掃描電鏡可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來(lái)成象，而且可以通過(guò)信號(hào)處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因?yàn)閽呙桦娮酉蟛皇峭瑫r(shí)記錄的，它是分解為近百萬(wàn)個(gè)逐次依此記錄構(gòu)成的。因而使得高分辨率臺(tái)式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進(jìn)行成分和元素的分析，以及通過(guò)電子通道花樣進(jìn)行結(jié)晶學(xué)分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。易于管理，即使是沒(méi)有或著僅具有實(shí)驗(yàn)室基...

X射線同無(wú)線電波、可見(jiàn)光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據(jù)不同的波長(zhǎng)范圍而已。X射線的波長(zhǎng)較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽(yáng)極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會(huì)發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽(yáng)極靶，從而產(chǎn)生X射線。X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試...

臺(tái)式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統(tǒng)大型SEM，臺(tái)式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空、不用噴金測(cè)量不導(dǎo)電樣品等優(yōu)勢(shì)，而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)填補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式掃描電鏡的工作原理和優(yōu)點(diǎn)：成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中，真...

低溫環(huán)境XRD的分析中，定量分析軸承和內(nèi)燃機(jī)噴射器部件中的殘余奧氏體；檢測(cè)輸片惰性輪中的殘余應(yīng)力；檢測(cè)汽車發(fā)動(dòng)機(jī)部件的殘余應(yīng)力(凸輪軸、連桿、發(fā)動(dòng)機(jī)軸、均衡器)；檢測(cè)由于全同火引起的殘余應(yīng)力(家用電器、結(jié)構(gòu)部件)；檢測(cè)氣體傳導(dǎo)時(shí)所存在的工作壓力；檢測(cè)大幅度拉伸結(jié)構(gòu)件中的工作應(yīng)力；通過(guò)檢測(cè)應(yīng)力來(lái)測(cè)量工件噴丸和軋制的效率；檢測(cè)鑄件的殘余應(yīng)力(機(jī)械工具鑄鐵件和汽車鑄鋁部件)；檢測(cè)焊接引起的應(yīng)力(激光和電焊)；研亢鋁合金汽車輪廓中的殘余應(yīng)力和應(yīng)力阻抗的笑系：優(yōu)化切削去除的工作參數(shù)以提...

日本電子電鏡是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技術(shù)。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發(fā)展和應(yīng)用的拓展，相繼發(fā)展了宏觀斷口學(xué)和顯微斷口學(xué)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過(guò)多級(jí)電磁透鏡匯集成細(xì)小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為101-1012A)。在末級(jí)透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些...

高溫環(huán)境XRD是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí)，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。高溫環(huán)境XRD的原理：x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這...